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CPK的计算方法,举例说明!

1、CPK的计算公式如下：CPK = min((USL - Xbar) / (3 * sigma)， (Xbar - LSL) / (3 * sigma))。

2、CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ， (Mu - LSL)/3σ]Cpk是指过程平均值与产品标准规格发生偏移（ε）的大小，常用客户满意的上限偏差值减去平均值和平均值减去下限偏差值中数值小的一个，再除以三倍的西格玛的结果来表示。

3、计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。

4、cpk要求至少要25个，ppk好像没有规定。cpk的标准差，如是xbar-rchart，则用rbar/d2来估计。

5、cpk计算公式：CPK=Cp*（1-|Ca|）。

...在涂装或真空镀膜方面,选择什么因素或参数可作CPK?谢谢!

1、由于低的沉积速率形成的涂层结构松散易产大颗粒沉积，为保证涂层结构的致密性，选择较高的蒸发速率是十分安全的。当真空室内残余气体的压力一定时，则轰击基片的轰击速率即为定值。

2、过程能力指数，表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，记为CPK。也称工序能力指数，指工序在一定时间里，处于控制状态（稳定状态）下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。

3、CPK是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。

cpk值低该怎么改善

调整过程加工的分布中心，减少中心偏移量。提高过程能力，减少程度。加强现场的质量控制，设置过程质量控制点或推行控制图管理，开展QC小组活动；加强质检工作。

提高设备和材料的质量：选择和使用更高质量的设备和材料，可以降低过程的变异性，从而提高CPK值。

确认数据的准确性，检查数据收集和输入的过程，确保没有错误或异常值导致CPK计算错误。检查样本数量和分布，确认样本数量足够，分布符合正态分布假设，确保CPK计算的准确性。采取有效的改进措施。

处于C等级，是要对制程加以改善的。由于上面数据的Ca 已达到了A等级故数据的平均值已经很好了。所以必须调整数据组中最大的数据及最小的数据，缩小二者之间的差值。逐步加以调整就可以使CPK值达到0到3之间了。

也就是离散问题我们改善中心偏移通常比改善离散要来的简单。

楼主如果相求CPK值的话，你去多拿一些产品测量一下该尺寸，测量数量在30个基本就够了。然后算出平均数、测量最大值与最小值，还有它的sigma值。